Redis中的缓存穿透，缓存击穿和缓存雪崩
概述 缓存击穿、缓存穿透、缓存雪崩这三个问题是Reids在实际项目中会经常遇到问题，同时，这三个问题也是面试的热点问题，下面，就本篇文章搞懂缓存穿透、缓存击穿、缓存雪崩三大问题的原因及解...
DataGrid的自动行列显示
新建wpf页面DataGridAutoView 引用空间： xmlns:ga="clr-namespace:WPFDemoMVVM.Helpers" <Window x:Class="WPFDemoMVVM.View.DataGridAutoView"
WPF开发中自定义DataGrid样式
实际开发中难免需要自己重写GataGrid样式，以下是我写的一个新样式： 1.view界面样式如下： <Window x:Class="WPFDemoMVVM.View.DataGridView" xmlns="http://schemas.micros...
WPF开发中的第三方库：ValueConverters的使用及属性验证方式
在wpf开发中，你会经常遇到一些需要验证填写内容不能为空，或者是其他的一些规则，比如正则表达式等，以下就是一个示例，同时提供了很多种方式。 1.方式1.使用第三方库：ValueConverters 第一步...
WPF开发中重写Combox样式遇到的一些问题
在实际的WPF开发过程中，你可能需要自定义ComBox的样式，重写的样式可能不出效果，背景色无法正常显示，或者是显示的内容出现白色遮罩，如以下的效果： 1.ComBox样式如下： <Style TargetTyp...
高级.net面试题
1 IsNullOrEmpty()和IsNullOrWhiteSpace()的区别？ IsNullOrEmpty是一个静态方法，它用于检查一个字符串是否为空或者为null。 public static bool IsNullOrEmpty(string value); IsNullOrWhiteS...
芯片测试中由MCU下载程序，测试芯片内接口、FLASH等情况
芯片测试中“由 MCU 下载程序，测试芯片内部接口、FLASH 等情况并反馈结果”通常是在生产测试（ATE）或板级测试（ATE-BIT/BIST）阶段使用的一种自测试（BIST）机制，主要用于验证芯片功能是否合...
第86篇 8种基本数据结构
1.数据结构概述 数据结构是计算机存储、组织数据的方式。 通常情况下，精心选择的数据结构可以带来更高的运行或者存储效率。数据结构的优良将直接影响着我们程序的性能； 常用的数据结构有：数...
芯片测试中的电源管脚接触测试
电源管脚接触测试（Power Pin Contact Test）是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚（如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等）是否与测试治具或探针台良好接触的关键测试环节。 1.为什么要做电源管脚...
芯片测试中 IO管脚接触测试
芯片中的 IO管脚接触测试（IO Pin Contact Test），是芯片测试流程（ATE：Automatic Test Equipment 流程）中非常关键的早期测试环节，主要用于判断芯片引脚是否正确接触探针/测试座，以避免由...
