芯片测试中由MCU下载程序,测试芯片内接口、FLASH等情况-牛翰网

芯片测试中由MCU下载程序,测试芯片内接口、FLASH等情况

芯片测试中“由 MCU 下载程序,测试芯片内部接口、FLASH 等情况并反馈结果”通常是在生产测试(ATE)或板级测试(ATE-BIT/BIST)阶段使用的一种自测试(BIST)机制,主要用于验证芯片功能是否合...
WPF中如何实现在一个弹窗中一个输入内容的表单,并在父窗口显示-牛翰网

WPF中如何实现在一个弹窗中一个输入内容的表单,并在父窗口显示

在wpf开发中,你有没有需要用到这样的场景,比如:在父窗口显示表单的输入的内容,然后再进行一些处理逻辑等,表单可以很复杂,也可以很简单,下面我就以示例代码来做一个demo展示。 1.父窗口界...
芯片测试中的电源管脚接触测试-牛翰网

芯片测试中的电源管脚接触测试

电源管脚接触测试(Power Pin Contact Test)是芯片量产/测试流程中用于确认芯片电源引脚(如 VDD、VSS、AVDD、DVDD 等)是否与测试治具或探针台良好接触的关键测试环节。 1.为什么要做电源管脚...
芯片测试中 IO管脚接触测试-牛翰网

芯片测试中 IO管脚接触测试

芯片中的 IO管脚接触测试(IO Pin Contact Test),是芯片测试流程(ATE:Automatic Test Equipment 流程)中非常关键的早期测试环节,主要用于判断芯片引脚是否正确接触探针/测试座,以避免由...
应用服务和领域服务有什么区别?-牛翰网

应用服务和领域服务有什么区别?

在微服务架构和领域驱动设计(Domain-Driven Design, DDD)中,应用服务(Application Service) 和 领域服务(Domain Service) 是两种不同类型的组件,它们在职责和使用场景上有明显的区别。...
腾讯云上部署CICD(持续集成)+docker/k8s部署项目-牛翰网

腾讯云上部署CICD(持续集成)+docker/k8s部署项目

1.部署流程 1、研发push到github代码库(或gitlab) 2、Jenkins 构建,pull git代码使用maven进行编译打包 3、打包生成的代码,生成一个新版本的镜像,push到本地docker仓库harbor 4、发布,测...
如何理解值传递的原理,string类型-牛翰网

如何理解值传递的原理,string类型

在 C# 中,参数传递的方式决定了方法内部对参数的修改是否会影响外部调用。对于 string 类型的参数,C# 使用的是按值传递(pass by value),这意味着在方法内部对 string 参数的重新赋值不会影...
WPF实现本地化多语言的几种方式-牛翰网

WPF实现本地化多语言的几种方式

话不多说,我们直接上源码开干。 1.第一种方式: 使用字典Dictionary.xaml 搭建系统框架,使用MVVM 页面布局方式如下: <Window x:Class="WPFDemoMVVM.View.LanguageChangeView" x...
简单梳理一下常见的系统-牛翰网

简单梳理一下常见的系统

1.ERP(企业资源计划) 英文全称:Enterprise Resource Planning 定义:由美国Gartner Group公司于1990年提出,是以管理会计为核心可以提供跨地区跨部门、甚至于跨公司整合实施信息的企业管理软...
net接口请求参数可能会被拦截--巨坑-牛翰网

net接口请求参数可能会被拦截–巨坑

中间件引起的接口请求参数被拦截,导致参数一直是null,这问题困扰了我很久,值得记录 1.场景 1.1 客户端使用framework4.8做一个接口请求发送: public static class ApiHelper { private stati...