芯片测试中 IO管脚接触测试

芯片中的 IO管脚接触测试（IO Pin Contact Test），是芯片测试流程（ATE：Automatic Test Equipment 流程）中非常关键的早期测试环节，主要用于判断芯片引脚是否正确接触探针/测试座，以避免由于接触不良导致后续测试误判。

1.IO管脚接触测试的目的

• 确认每个 IO 脚是否与测试机/探针卡接触良好
• 避免误判芯片功能异常其实是接触不良
• 在功能测试前筛掉接触失败的芯片

2.测试原理与流程

3.常用测试方法

4.所需设备（基于 NI PXI 系统）

5.接触良好 vs 接触不良 的测试结果示例

6.总结

以上就是IO管脚接触测试的简单介绍

如果本文介绍对你有帮助，可以一键四连：点赞+评论+收藏+推荐，谢谢！

来源链接：https://www.cnblogs.com/chenshibao/p/18946473